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leeb320超声波测厚仪的技术参数

更新时间:2023-08-04      点击次数:885

leeb320超声波测厚仪


基本原理:

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

 

功能特点:

● 针对复合、未知材料已知厚度,反测准确声速;

● 设置上下限公差,超过自动报警;

● 状态提示功能。

● 适合测量声速为5920的超声波的良导体的厚度;

● 具有探头零点校准

● 具有耦合状态提示功能;

● 有高亮度LED背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;

● 有剩余电量指示功能,可实现显示电池剩余电量;

● 具有自动休眠、自动关机等节电功能;

● 小巧、便携、稳定性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰;

● 公制与英制可选择。

 leeb320超声波测厚仪

技术参数:

项目

Leeb320

测量范围

0.75~350mm(钢,由探头决定)标配探头测量范围1-250mm

显示分辨率

0.1mm

声速范围

5920m/s

表面温度

-10~60℃

示值误差

±(1%H+0.1)mm,H为被测物实际厚度

电源

AAA型碱性电池(2节)

操作时间

约200小时

外形尺寸

130×70×25mm

重量

约0.2kg(主机)

标准配置

主机、L51探头、AAA型碱性电池、耦合剂

可选配

探头、耦合剂



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